夹杂物

在LTF区常聚集一些宏观与微观夹杂。有些微观夹杂容易识别，用一般光学金相（经彩色蚀显后）即可发现。对于另些微观夹杂则只有经电化学（电解液为含CrO₃的冰醋酸溶液）刻蚀并用扫描电镜方可观察到。这些夹杂直径为1-3um，多以MgO或Mg与Si的化合物形式存在，分布在LTF区，即共晶晶粒界面。Shiao揭示出，将w(Si)=2.0%提高到w(Si)=3.9%，共晶晶粒间的区域增大，夹杂物增多。并发现，受力时裂纹易沿此处的夹杂物扩展，使韧性下降。